学术报告
超精密光学元件检测技术
点击数:225 发布日期:2024-03-13 发布部门:科学技术研究院
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报告题目:超精密光学元件检测技术
报告人姓名:于瀛洁
报告人简介:
于瀛洁,上海大学研究员、博士生导师。现任上海大学机自学院院长、中国仪器仪表学会精密机械分会常务副主任委员兼总干事、中国计量测试学会计量仪器专业委员会常务委员等。主要从事光学检测和计算成像等方向研究,在超精密光学元件检测方面具有长期积累,承担了国家自然科学基金面上项目、国家重大科技专项课题、国家重点研发计划课题等研究工作。在国内外学术期刊发表SCI/EI论文100余篇、获授权发明专利30余项。联系方式:yingjieyu@staff.shu.edu.cn
报告时间:2024年3月16日星期六上午10点
报告地点:自动化学院学术报告厅
举办部门:自动化学院、科学技术研究院